高迁移率GaAs/AlGaAs器件中辐射诱导的振荡式霍尔效应
介观与纳米尺度物理
2009-11-10 v2
摘要
我们考察了在高迁移率GaAs/AlGaAs器件中,霍尔效应在微波激发下的修改。激发后霍尔效应的修改表现为:(a)相对于暗值,霍尔电阻曲线斜率有小幅减小,(b)霍尔电阻R_xy的幅值定期减小,与对角电阻R_xx的增加相关,以及(c)霍尔电阻校正在对角电阻消失时消失。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0310474,
title = {Radiation induced oscillatory Hall effect in high mobility GaAs/AlGaAs devices},
author = {R. G. Mani and V. Narayanamurti and K. von Klitzing and J. H. Smet and W. B. Johnson and V. Umansky},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0310474},
year = {2009}
}
备注
4 pages text, 4 color figures