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电子掺杂 Sr$_2$IrO$_4$ 的赝能隙与电子结构

强关联电子 2018-04-11 v1

摘要

我们给出关联效应对 Mott 绝缘体 Sr2_2IrO4_4 在电子掺杂下电子结构影响的理论研究。发现 Mott 能隙在掺杂下迅速塌缩,且电子结构在低掺杂水平呈现强烈的动量空间分化:费米面由中心位于 (π/2,π/2)(\pi/2,\pi/2) 的口袋构成,而在 (π,0)(\pi,0) 附近打开赝能隙。其物理起源被表明与短程自旋关联有关。赝能隙随掺杂增加而闭合,但沿费米面以谱强度调制为特征的差异化区域持续至更高掺杂水平。这些在胞腔动力学平均场理论框架内获得的结果,与近期角分辨光电子能谱实验相比较讨论,发现总体良好一致。

关键词

引用

@article{arxiv.1801.08835,
  title  = {Pseudogap and electronic structure of electron-doped Sr$_2$IrO$_4$},
  author = {Alice Moutenet and Antoine Georges and Michel Ferrero},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1801.08835},
  year   = {2018}
}