通过弱反局域化实验探测拓扑表面态的空间范围
介观与纳米尺度物理
2018-12-21 v1 材料科学
摘要
弱反局域化测量已成为研究拓扑材料中量子相干输运的标准工具。它常用于提取拓扑表面态的导电通道数和退相干长度信息。我们研究原型拓扑晶体绝缘体 SnTe 的薄膜。为了获取这些态的微观特征，我们采用 Tkachov 和 Hankiewicz 发展的模型 [Physical Review B 84, 035444]。利用该模型，拓扑态的空间衰减由垂直和平行磁场构型下电导率的量子修正测量得到。在该模型内，我们发现两个拓扑边界之间的相互作用导致空间衰减随薄膜厚度缩放。我们将此行为归因于体 reservoir，其通过不发生拓扑载流子相位破缺的散射事件来介导相互作用。
引用
@article{arxiv.1812.08711,
title = {Probing spatial extent of topological surface states by weak antilocalization experiments},
author = {K. Dybko and G. P. Mazur and W. Wolkanowicz and M. Szot and P. Dziawa and J. Z. Domagala and M. Wiater and T. Wojtowicz and G. Grabecki and T. Story},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.08711},
year = {2018}
}
备注
6 pages , 5 figures