高频 Floquet 驱动下本征态的预热稳定性

受高频驱动的系统表现出 Floquet 预热化，即它们在驱动频率 $\tau_{\rm h} \sim \exp(\omega)$ 的大时间尺度上以指数缓慢的速度升温。尽管如此，局域可观测量可以通过能量守恒过程衰减得快得多，这预计会导致初态保真度的快速衰减。与此相反，我们在此表明，时间平均哈密顿量 $H_0$ 的本征态的保真度在很宽的频率范围内表现出指数长的寿命——即使一般初态迅速衰减。当 $H_0$ 具有量子疤痕，即低纠缠的高度激发本征态时，这导致某些初态中局域可观测量出现长寿命的非热行为。我们提出了一个描述保真度衰减时间 $\tau_{\rm f}$ 的双通道理论：区间间通道通过能量吸收即跨 Floquet 区的耦合引起保真度衰减，并将 $\tau_{\rm f}$ 与缓慢升温时间尺度联系起来，而区间内通道引起同一 Floquet 区内态之间的杂化。我们的工作为使用 Floquet 工程生成有趣的多体哈密顿量（无论有无疤痕）的实验方法的鲁棒性提供了信息。