重复测量交叉设计中复杂残留效应的惩罚GEE方法

多年来，人们一直认为用于分析交叉设计数据的模型在假设简单残留效应时并不合适。此外，从未找到能够估计交叉设计中复杂残留效应的统计模型。然而，本文发现了复杂残留效应的可估性条件以及支持它们的理论结果。此外，针对典型的AB/BA重复测量交叉设计，在非线性剂量反应测试中开发了一个模拟示例。该模拟表明，半参数模型能够检测复杂残留效应，并且这种估计提高了处理效应估计量的精度。结论是，当每个个体在每个观察周期内至少有五次重复测量时，半参数统计模型能够提供处理效应的良好估计量，并相对于假设无残留效应或简单残留效应的模型减少了偏差。此外，展示了该方法的应用，并且估计复杂残留效应所带来的分析丰富性是显而易见的。