太赫兹时域光谱测量中样品厚度的优化
光学
2008-07-16 v1 材料科学
摘要
透射式太赫兹时域光谱 (THz-TDS) 测量的样品应该有多厚？样品是否越厚越好？答案是‘否’。虽然增加厚度允许太赫兹射线与体材料有更多的相互作用，但由于信号衰减，信噪比 (SNR) 会随厚度增加而下降。那么，样品是否应该极薄？答案同样是‘否’。过薄的样品对太赫兹射线几乎不可见，导致系统难以感知样品与自由空间路径之间的差异。那么，‘过厚’与‘过薄’之间的最佳界限在哪里？本文分析并揭示了这种权衡，我们的方法是寻找能使测得光学常数方差最小的最佳厚度。
引用
@article{arxiv.0711.3815,
title = {Optimisation of sample thickness for THz-TDS measurements},
author = {W. Withayachumnankul and B. M. Fischer and D. Abbott},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.3815},
year = {2008}
}
备注
13 pages, 11 figures