利用太赫兹时域光谱对光学厚材料进行透射与反射快速精确材料性质估计的方法
光学
2024-03-28 v1
摘要
随着太赫兹时域光谱的发展，已有方法被提出用于精确估计样品的厚度、折射率和衰减系数。本文提出一种计算这些参数的新方法。在该方法中，衰减表示为折射率的函数。由此，仅依赖于折射率的理论解卷绕相位角随后与实验值进行匹配。通过应用已有的估计光学厚样品厚度的方法，可以推导出样品的介电性质。该方法同时适用于透射光谱和反射光谱。最后展示了该方法的演示及其与先前方法的比较。
引用
@article{arxiv.2403.18531,
title = {Methods for fast and accurate material properties estimate with terahertz time-domain spectroscopy in transmission and reflection with optically thick materials},
author = {Vincent Goumarre and Yasith Amarasinghe and Martin Lahn Henriksen and Mogens Hinge and Pernille Klarskov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.18531},
year = {2024}
}