基于频域光谱法的太赫兹波段固体复折射率计量

频域光谱法使实验者能够在宽频带（包括技术上具有挑战性的 10 THz 区域）内确定固体的光学性质，并在其他波段实现不同竞争技术之间的计量学比较。我们提出了一种仅利用平面平行法布里-珀罗光学平片的透射模式频域光谱来提取高折射率固体光学性质的方法。我们表明，不同的数据处理技术会产生不同类型的系统误差，并且一些常用技术具有未被充分重视的固有系统误差。我们使用模型数据集在隔离实验误差的情况下交叉比较算法，并提出了一种与其竞争者具有定性不同系统误差的新算法。我们表明，我们的方案对噪声或切趾等实验非理想性更为鲁棒，并以提取晶体硅的复折射率谱作为实际示例。最后，我们提出算法是互补而非竞争的这一观点，应作为改进计量学的工具箱的一部分共同使用。