薄膜的太赫兹时域光谱研究
仪器与探测器
2024-06-07 v1 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
THz时域光谱是一种强大的技术，可在远红外频率范围研究不同材料。尽管该技术现已成熟，但应用于非常薄的薄膜仍特别困难。我们研究了将THz光谱用于微米厚度样品，旨在分离多次反射并高精度测量材料参数的绝对值。我们实施了可应用于自由站立单层或多层样品的实验和数据分析程序。具体而言，我们报告了使用THz时域光谱对两个样品的实验研究：一个由已知厚度和材料的双层组成的测试样品；第二个样品对文化遗产研究极具兴趣，由附着在较厚基底上的薄墨膜组成。此外，我们详细描述了从实验结果提取材料参数所需的数据分析和拟合过程。
引用
@article{arxiv.1703.06755,
title = {THz time-domain spectroscopic investigations of thin films},
author = {A. Taschin and P. Bartolini and J. Tasseva and R. Torre},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.06755},
year = {2024}
}
备注
arXiv admin note: text overlap with arXiv:1610.01025