基于太赫兹时域光谱材料表征的分层色散模型
材料科学
2014-07-08 v1 光学
摘要
我们提出了一种新颖的太赫兹 (THz) 材料分析方法，该方法可提供高精度的材料参数，并可用于工业质量控制。该方法将被检材料在其环境中局部视为分层系统，并以真实的方式描述每一层的光与物质相互作用。我们在时域和频域中展示了该方法在太赫兹技术两个潜在应用领域中的实例：潮湿空气中测量的（涂层）纸张片材的质量控制和汽车漆多层膜的质量控制。
引用
@article{arxiv.1407.1628,
title = {Stratified dispersive model for material characterization using terahertz time-domain spectroscopy},
author = {J. L. M. van Mechelen and A. B. Kuzmenko and H. Merbold},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.1628},
year = {2014}
}
备注
4 pages, 4 figures