透射式太赫兹时域光谱术在薄膜检测中的局限性
光学
2014-01-15 v1
摘要
在透射式太赫兹时域光谱术（THz-TDS）中，样品厚度是决定太赫兹波与块体材料之间相互作用量的关键因素。如果相互作用长度过小，透射信号的变化会被系统中的涨落与噪声淹没。在这种情况下，样品将无法被检测到。本文提出了一个判据，用于确定自由空间透射式 THz-TDS 仍可检测到的自支撑薄膜的下厚度边界。严格的分析得出了样品光学长度与系统信噪比（SNR）之间简单的正比关系。所提出的判据有助于决定是否需要采用替代的太赫兹薄膜传感模式。
引用
@article{arxiv.1111.3498,
title = {Limitation in thin-film detection with transmission-mode terahertz time-domain spectroscopy},
author = {Withawat Withayachumnankul},
journal= {arXiv preprint arXiv:1111.3498},
year = {2014}
}
备注
5 pages, 1 figure