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利用多波长多入射角干涉测定薄透明膜的折射率、绝对厚度与局部斜率

光学 2020-08-26 v1 其他凝聚态物理

摘要

我们描述了一种高速干涉方法,使用多个入射角和多波长,来测量波动透明楔的绝对厚度、倾斜、表面间局部夹角以及折射率。该方法非常适用于生物、流体和工业应用。

关键词

引用

@article{arxiv.2005.10437,
  title  = {Determining the refractive index, absolute thickness and local slope of a thin transparent film using multi-wavelength and multi-incident-angle interference},
  author = {Mengfei He and Sidney R. Nagel},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2005.10437},
  year   = {2020}
}

备注

9 pages, 10 figures