白光干涉测量薄膜厚度：纳米级精度分析
光学
2025-11-27 v1 软凝聚态物质
摘要
本文提出一种实用的白光干涉方法，配合开源Python库\textit{optifik}实现从光谱到厚度的自动推导，使泡沫膜可测至纳米级。我们描述了该方法遇到的三种典型光谱情形：光谱呈现大量干涉条纹、光谱具有适中数量的峰值以及仅有少数可识别特征的光谱，分别提供示例。我们还讨论了该技术的主要局限，包括光谱范围限制、需知晓折射率以及光谱分辨率和信号质量的影响。最后，我们展示了该方法在TTAB（四烷基四季丹 bromide）泡沫膜 undergoing 伸长和变薄的时间分辨研究中的应用。该方法可适用于测量任何薄非不透明层。
引用
@article{arxiv.2511.21383,
title = {White light interferometry analysis for measuring thin film thickness down to few nanometers},
author = {Victor Ziapkoff and François Boulogne and Anniina Salonen and Emmanuelle Rio},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.21383},
year = {2025}
}