利用 Fabry-Perot 共振器实现的增强型光热位移谱法用于薄膜表征
材料科学
2009-11-10 v2
摘要
我们发展了一种新的光热位移谱技术，可能比传统方法更灵敏数个数量级。我们使用单个 Fabry-Perot 共振器来增强泵浦光束的强度以及探测光束的灵敏度。结果是仪器响应相对于传统干涉仪测量方法提高了成共振腔光纱度的平方个比例。本文介绍了该技术的描述，并讨论了如何从光热响应中推断薄膜属性。作为该技术的一个示例，我们报告了类似于用于干涉仪引力波探测器的多层介电镜的热学性质的测量。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0310194,
title = {Enhanced photothermal displacement spectroscopy for thin-film characterization using a Fabry-Perot resonator},
author = {Eric D. Black and Ivan S. Grudinin and Shanti R. Rao and Kenneth G. Libbrecht},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0310194},
year = {2009}
}
备注
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