中文

基于超周不等式的薄障碍问题最优正则性

偏微分方程分析 2023-07-25 v1

摘要

证明薄障碍问题的最优 C1,12C^{1,\frac12} 正则性的关键在于,自由边界上一点 x0Γ(u)x_0\in\Gamma(u) 处的频率(记为 Nx0(0+,u)N^{x_0}(0^+,u))满足下界 Nx0(0+,u)32N^{x_0}(0^+,u)\ge\frac32。本文给出了证明该估计的一种替代方法,利用针对负能量 W32W_\frac32 的超周不等式(epiperimetric inequality)。它表明不存在 λ(1,32)\lambda\in (1,\frac32)λ\lambda-齐次整体解,并由此频率间隙得到所需下界,从而给出最优正则性的一个新的自包含证明。

关键词

引用

@article{arxiv.2307.12658,
  title  = {Optimal regularity of the thin obstacle problem by an epiperimetric inequality},
  author = {Matteo Carducci},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2307.12658},
  year   = {2023}
}