辐照外延 GaN 薄膜的光学性质
材料科学
2014-01-24 v1 光学
摘要
研究了微波处理 (MWT) 对六角形 GaN 薄膜光学性质的影响。为了估算薄膜近表面薄层内的内部机械应变和结构完美度，使用了电反射 (ER) 方法。ER 光谱是在第一直接带间跃迁区间内测量的。研究表明，MWT 导致辐照薄膜内部机械应变的弛豫。此外，辐照薄膜近表面薄层的结构完美度有所提高。提出了一种包含共振效应和薄膜缺陷区域局部加热的机制来解释所观察到的效应。
引用
@article{arxiv.1401.5972,
title = {Optical properties of irradiated epitaxial GaN films},
author = {A. E. Belyaev and N. I. Klyui and R. V. Konakova and A. M. Luk'yanov and Yu. M. Sveshnikov and A. M. Klyui},
journal= {arXiv preprint arXiv:1401.5972},
year = {2014}
}