基于芯片的 GaAs 载流子寿命研究
光学
2025-03-18 v1 应用物理
仪器与探测器
摘要
我们提出了一种基于光纤光学和集成波导的泵浆探测法来确定 GaAs 载流子寿命。我们发现，实验得到的 GaAs 样品寿命范围为 30-80 ps，支持带宽 ≥ 12.5 GHz。本工作所采用的平台可为低成本地探讨光载流子寿命提供一种途径。此外，它可能具有用于高速开关和探测器，或可用于潜在的全光调制应用。
关键词
引用
@article{arxiv.2503.12487,
title = {On-chip GaAs carrier lifetime investigation},
author = {Chawaphon Prayoonyong and Crispin Szydzik and Guanghui Ren and Bill Corcoran and Aditya Dubey and Caitlin E. Murray and Toby Mitchell and Arnan Mitchell},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.12487},
year = {2025}
}
备注
5 pages, 5 figures, 1 table