硅纳米线中载流子动力学的超快光学纳米显微术
材料科学
2023-04-26 v2 光学
摘要
半导体材料中的载流子分布与动力学通常决定其物理属性，这些属性对工业应用中的功能与性能至关重要。电子与光子器件的持续微型化要求工具能在皮秒时间尺度和纳米长度尺度上同时探测半导体中的载流子行为。在此，我们报道了在可见-近红外光谱区的泵浦-探测光学纳米显微术，用以表征硅纳米结构中的载流子动力学。通过将实验与点偶极模型耦合，我们分辨出单个硅纳米线中依赖于尺寸的的光激发载流子寿命。我们进一步展示了以低于 50 nm 空间分辨率对硅纳米结构中的局域载流子衰减时间成像。我们的研究实现了超快载流子动力学的纳米成像，这将在未来广泛的电子、光子和光电子器件设计中找到有前景的应用。
引用
@article{arxiv.2208.11219,
title = {Ultrafast optical nanoscopy of carrier dynamics in silicon nanowires},
author = {Jingang Li and Rundi Yang and Yoonsoo Rho and Penghong Ci and Matthew Eliceiri and Hee K. Park and Junqiao Wu and Costas P. Grigoropoulos},
journal= {arXiv preprint arXiv:2208.11219},
year = {2023}
}