基于瞬态反射显微术的WS2-WSe2面内异质结构中载流子快速分离成像
介观与纳米尺度物理
2024-03-19 v1
摘要
载流子在纳米器件中的传输在决定其功能方面发挥着关键作用。进入纳米时代后，靠近表面或界面域的载流子行为决定了整个器件的功能。然而，载流子的皮秒动态和纳米尺度运动为其行为成像带来了挑战。对于跟踪其复杂动态，亟需实现高时空分辨率的技术。在本研究中，我们采用瞬态反射显微术直接可视化WS2-WSe2面内异质结构中的电荷分离。通过精细跟踪载流子的漂移行为，我们提取了电子和空穴的漂移速度分别为30 nm/ps和10.6 nm/ps。此外，基于载流子运动轨迹，确定了耗尽层宽度为300 nm。这项工作为在这些共价面内异质结构中有效利用提供了必要参数，并展示了瞬态光学成像在阐明纳米器件电气行为方面的成功，为新的电光分析方法开辟了道路。
关键词
引用
@article{arxiv.2403.10848,
title = {Ultrafast carriers' separation imaging in WS2-WSe2 in plane heterojunction by transient reflectivity microscopy},
author = {Yangguang Zhong and Shuai Yue and Huawei Liu and Yuexing Xia and Anlian Pan and Shula Chen and Xinfeng Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.10848},
year = {2024}
}