SrTiO3/SmTiO3界面上的新型金属-绝缘体转变
强关联电子
2017-06-13 v1 材料科学
摘要
我们报道在SmTiO3/SrTiO3界面的电子系统中观测到的金属-绝缘体转变（MIT）。该MIT的特征是在临界温度处发生突变，低于该温度电阻变化超过一个数量级。转变温度系统地依赖于载流子密度，其通过改变SmTiO3厚度从 ~1x10^14 cm^-2 调谐至 3x10^14 cm^-2。输运性质分析显示随着载流子密度降低出现非费米液体行为和质量增强。我们将该MIT特征与其他材料系统中已知的MIT进行比较，并显示它们在几个方面明显不同。我们初步得出结论，长程库仑相互作用和极化界面处的固定电荷都可能在该MIT中起作用。对载流子密度的强烈依赖性使得该MIT对场可调器件具有意义。
引用
@article{arxiv.1705.05447,
title = {Novel metal-insulator-transition at the SrTiO3/SmTiO3 interface},
author = {Kaveh Ahadi and Susanne Stemmera},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.05447},
year = {2017}
}
备注
Accepted for publication In Phys. Rev. Lett