SuperCDMS HVeV 探测器中碰撞电离与电荷俘获的建模
仪器与探测器
2020-02-17 v1
摘要
本文针对 SuperCDMS HVeV 探测器，提出了一种电荷俘获与碰撞电离的模型，以及测量这些参数的实验。还描述了一种分离和量化测量中主要噪声源（体电荷泄漏与表面电荷泄漏）的方法。这为精确测量电荷俘获与碰撞电离概率奠定了基础，以便将该模型纳入未来的暗物质搜寻中。
引用
@article{arxiv.1912.11549,
title = {Modeling of Impact Ionization and Charge Trapping in SuperCDMS HVeV Detectors},
author = {F. Ponce and W. Page and P. L. Brink and B. Cabrera and M. Cherry and C. Fink and N. Kurinsky and R. Partridge and M. Pyle and B. Sadoulet and B. Serfass and C. Stanford and S. L. Watkins and S. Yellin and B. A. Young},
journal= {arXiv preprint arXiv:1912.11549},
year = {2020}
}