利用囚禁离子探测介电质的光致充电效应
量子物理
2010-09-28 v2 材料科学
摘要
我们使用一串受限的Ca离子来测量由光致充电引起的囚禁势扰动，该充电效应源于增透膜窗口以及离子阱电极上的绝缘斑块。在离子位置处感生的电场被表征为到介电质距离、以及入射光功率和波长的函数。对离子串位置的测量灵敏度可达在毫米量级距离上介电质上每约40个基本电荷，并且对于波长长达729纳米的照明光也观测到了扰动。这对未来微型化离子阱实验具有重要意义，特别是在电极材料的选择以及必须在离子附近集成的光学元件方面。所提出的方法可轻易应用于离子阱实验背景之外的充电效应研究。
引用
@article{arxiv.1004.4842,
title = {Trapped-ion probing of light-induced charging effects on dielectrics},
author = {Maximilian Harlander and Michael Brownnutt and Wolfgang Hänsel and Rainer Blatt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.4842},
year = {2010}
}
备注
11 pages, 5 figures