介电材料引起的囚禁离子加热
量子物理
2021-06-16 v1 材料科学
摘要
由表面引起的电场噪声会扰动附近囚禁离子的运动，损害作为量子计算算法基础的门操作保真度。我们提出一种预测介电材料对离子运动影响的方法。此类介电材料是离子阱的组成部分。在一个无自由参数的模型与靠近介电镜的囚禁离子测量之间发现了定量一致。我们期望该方法可用于优化基于离子阱的量子计算机与网络节点的设计。
引用
@article{arxiv.2103.13846,
title = {Heating of a trapped ion induced by dielectric materials},
author = {Markus Teller and Dario A. Fioretto and Philip C. Holz and Philipp Schindler and Viktor Messerer and Klemens Schüppert and Yueyang Zou and Rainer Blatt and John Chiaverini and Jeremy Sage and Tracy E. Northup},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.13846},
year = {2021}
}