确定技术噪声对离子运动加热贡献的方法
量子物理
2021-12-08 v1 应用物理
原子物理
摘要
微加工保罗离子阱在大规模量子信息处理方面展现出巨大前景。然而，在小型化、可扩展的设计中，离子的运动加热会对量子逻辑操作的保真度产生有害影响。在许多实验中，由静态（DC）和射频（RF）电极上存在的电压技术噪声引起的离子加热贡献可能被忽视。我们提出了一种可靠的方法，用于确定运动加热在多大程度上由 DC 或 RF 电极上的残余电压噪声主导。此外，我们证明了杂散 DC 电场可以移动离子位置，使得 RF 电极上的技术噪声可显著贡献于运动加热率。在最小化由杂散 DC 电场引起的离子所经历的赝势梯度后，由 RF 技术噪声引起的运动加热可显著降低。
引用
@article{arxiv.1805.09491,
title = {Method for Determination of Technical Noise Contributions to Ion Motional Heating},
author = {J. A. Sedlacek and J. Stuart and W. Loh and R. McConnell and C. D. Bruzewicz and J. M. Sage and J. Chiaverini},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.09491},
year = {2021}
}
备注
8 pages, 4 figures