单电子晶体管岛电荷的微机械电测量
介观与纳米尺度物理
2009-11-07 v1 量子物理
摘要
我们考虑使用位于单电子晶体管岛上方的微机械栅极，以直接测量由隧穿电子引起的岛电荷波动的可能性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0109208,
title = {Micromechanical electrometry of single-electron transistor island charge},
author = {M. P. Blencowe and Y. Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0109208},
year = {2009}
}
备注
To appear in Phonons 2001 Proceedings (Physica B)