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康普顿层析问题的微局部分析

泛函分析 2020-01-27 v3 数值分析 数值分析

摘要

本文针对康普顿散射层析与机场行李安检中的二维图像重建问题,提出了一种新的环截面变换的微局部分析。通过对圆变换的两个独立有限数据问题进行分析并运用微局部分析,我们证明了环截面变换的典则关系是2对1的。这意味着滤波反投影重建中会出现图像伪影。我们给出了预期伪影的显式表达式,并通过模拟加以验证。此外,我们证明了前向算子在支撑于开单位球内的 LL^\infty 函数上的单射性。我们利用离散方法和若干带有不同水平伪随机噪声的正则化器,从模拟数据给出了重建结果。

关键词

引用

@article{arxiv.1902.09623,
  title  = {Microlocal analysis of a Compton tomography problem},
  author = {James Webber and Eric Todd Quinto},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1902.09623},
  year   = {2020}
}

备注

31 pages, 18 figures