一种 CST 系统的设计及其向双成像模态的扩展

在材料检测应用中，计算机断层扫描是一种成熟的成像技术，可恢复物体的衰减图。传统模态仅利用初级辐射，尽管在工业应用所用能量范围内康普顿散射辐射显著，但被测数据中将其去除。相反，康普顿散射断层扫描不仅考虑康普顿效应，还利用其成像材料的电子密度。尽管其应用前景广阔，康普顿散射断层扫描的某些方面迄今尚未被研究，而这些方面对于可运行系统的设计是必要的，故需加以解决。本文中，我们分析了关于圆形康普顿散射断层扫描（作者近期提出的一种系统）真实探测器的若干物理影响。这是通过提出一种新的加权 Radon 变换来实现的。此外，我们提议通过预处理步骤调整所获取的数据，使其适用于滤波反投影类重建算法进行重建，从而妥善处理真实测量中的缺失数据。最后，我们引入一种双成像配置，可同时恢复物体的电子密度图及其衰减图。