拓扑指数的磁光测定
介观与纳米尺度物理
2017-04-06 v2
摘要
当一个狄拉克费米子系统获得能隙时，根据其导带和价带的宇称排序，它被称为具有平凡（正能量隙）或非平凡（负能量隙）拓扑。非平凡区域通过存在于体能隙中的拓扑表面态或边缘态色散来识别，并被赋予一个非零的拓扑指数。在这项工作中，我们展示了这种拓扑指数可以通过精确测量体块有质量狄拉克费米子的有效速度来实验确定。我们从 Bernevig-Hughes-Zhang 哈密顿量（BHZ）出发解析地证明了这一点，以展示拓扑指数如何依赖于这个速度。然后，我们使用红外磁光朗道能级光谱实验提取了 Pb1-xSnxSe 和 Pb1-xSnxTe 中的拓扑指数。该方法被认为对所有可由 BHZ 类模型描述并存在拓扑相变的材料类别具有普适性。
引用
@article{arxiv.1608.08912,
title = {Magnetooptical determination of a topological index},
author = {Badih A. Assaf and Thanyanan Phuphachong and Valentine V. Volobuev and Guenther Bauer and Gunther Springholz and Louis-Anne de Vaulchier and Yves Guldner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.08912},
year = {2017}
}
备注
Accepted for publication in Nature Partner Journal Quantum Materials