ZrTe5 中应变调控拓扑相变的证据
强关联电子
2019-08-13 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
拓扑不同绝缘相之间的相变涉及能隙的闭合与重开。接近该拓扑相变时，体能量谱以有质量狄拉克色散为特征，其中质量起能隙的作用。本文报道在 ZrTe5 中观测到电阻率的单调非单调应变依赖性和负纵向磁电阻，该材料已知在体相承载有质量狄拉克费米子。该非单调应变依赖性与布里渊区中心能隙的闭合与重开一致，表明发生拓扑相变。此观测表明 ZrTe5 的拓扑态对单轴应力高度敏感。我们的研究为连续原位调控材料非平庸拓扑性质提供了一个有前景的平台。
引用
@article{arxiv.1808.07898,
title = {Evidence for a strain tuned topological phase transition in ZrTe5},
author = {Joshua Mutch and Wei-Chih Chen and Preston Went and Tiema Qian and Ilham Zaky Wilson and Anton Andreev and Cheng-Chien Chen and Jiun-Haw Chu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1808.07898},
year = {2019}
}
备注
27 pages, 11 figures