ZrTe5中强拓扑绝缘体相的证据
材料科学
2016-12-07 v1
摘要
的复杂电子性质最近激发了深入研究，将其归为拓扑绝缘体或3D狄拉克半金属相。我们报告了电子和结构性质的全面实验和理论研究，揭示块体材料是强拓扑绝缘体（STI）。通过角分辨光电子能谱，我们在价带顶识别了表面态和块体态。这些能带的色散被STI情况的从头算计算很好地捕捉，基于我们X射线衍射研究中测量的特定层间距。此外，扫描隧道谱揭示了样品表面的金属性，支持这些发现，从而确认的强拓扑性质。
引用
@article{arxiv.1608.03433,
title = {Evidence for a Strong Topological Insulator Phase in $\mathrm{ZrTe_5}$},
author = {G. Manzoni and L. Gragnaniello and G. Autès and T. Kuhn and A. Sterzi and F. Cilento and M. Zacchigna and V. Enenkel and I. Vobornik and L. Barba and F. Bisti and Ph. Bugnon and A. Magrez and V. N. Strocov and H. Berger and O. V. Yazyev and M. Fonin and F. Parmigiani and A. Crepaldi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.03433},
year = {2016}
}
备注
5 pages, 4 figures