非磁性和磁性拓扑绝缘体中的狄拉克点谱权重抑制与表面“能隙”

预测拓扑绝缘体表面电子可以通过面外磁化打破时间反演对称性而在狄拉克点打开能隙从而获得质量（有质量狄拉克费米子）。我们报告了一系列拓扑绝缘体材料的光发射研究，聚焦于狄拉克节点附近的谱行为。我们的结果表明，在有无磁性杂质或掺杂的材料中，谱强度被抑制，导致出现类似“能隙”的特征。磁性掺杂样品中的塞曼能隙预计很小，很可能被我们报道的涉及大能量尺度的非磁性强谱权重抑制所掩盖。因此，在狄拉克节点附近观察到的光发射谱权重抑制不能作为时间反演对称性破缺磁能隙的唯一证据。我们讨论了许多常见拓扑材料中观察到的狄拉克点谱权重抑制（“能隙”）的几种可能的外在和运动学起源。