利用常规几何同步辐射辅助 EDXRF 测量标定十亿分之一量级的元素检测灵敏度
材料科学
2021-11-08 v1 原子物理
摘要
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是一种广泛用于材料微量与痕量多元素分析的非破坏性技术。常规试验表明，使用实验室辅助的 EDXRF 测量可获得 μg/g 至亚 μg/g 量级的元素检测限。本工作采用定量方法，尝试探索如何使用简单的 EDXRF 激发（45°-45° 几何）而非使用对不同元素具有相对更优检测限的全反射 X 射线荧光 (TXRF) 技术，来获得 ng/g 量级的元素检测限。为此，我们在相同实验条件下记录了标准参考样品 (ICP-IV) 的荧光谱。结果表明，在厚度为 25-50 μm 的薄 kapton 箔作为样品载体上放置极少量样品，EDXRF 技术可提供与 TXRF 技术相当的元素检测限。
引用
@article{arxiv.2111.03272,
title = {Labeling elemental detection sensitivities in part per billion range using conventional geometry synchrotron assisted EDXRF measurements},
author = {Md. Akhlak Alam and M. K. Tiwari and Ayushi Trivedi and Ajay Khooha and A. K. Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.03272},
year = {2021}
}