优化 GEM 检测器用于 X 射线荧光成像应用
仪器与探测器
2024-10-01 v2
摘要
本文提出了一套旨在优化用于 3--30 keV 能量范围内 X 射线荧光成像应用的气体检测器的模拟研究。通过研究辐射与气体相互作用的统计分布，计算了在 Ar/CO(70/30) 和 Kr/CO(90/10) 中 6 keV X 射线光子进行电荷乘增后能量分辨率的限制，分别获得了 15.4(4)% 和 14.6(2)% 的能量分辨率。还研究了检测器设计，以减少逃逸峰的出现，并补充模型以评估由检测器内部导电材料产生的铜 X 射线荧光。
引用
@article{arxiv.2404.15044,
title = {Optimization of GEM detectors for applications in X-ray fluorescence imaging},
author = {Geovane G. A. de Souza and Hugo Natal da Luz and Marco Bregant},
journal= {arXiv preprint arXiv:2404.15044},
year = {2024}
}
备注
18 pages, 11 figures