高能第四代 X 射线同步辐射光源的相干特性

我们对发射度值为 10 pmrad 的第四代高能储存环的相干特性进行了分析。目前预期具有这些低发射度值的储存环将在硬 X 射线处达到衍射极限。使用 XRT 软件以及解析方法，对不同光子能量（从 500 eV 到 50 keV）的相干特性进行了模拟。结果表明，此类储存环达到的最小光子发射度（衍射极限）为 $\lambda/2\pi$。利用模式分解我们表明，在本文考虑的储存环参数下，软 X 射线能量 500 eV 处将达到衍射极限。在 12 keV 光子能量处约有十个模式对辐射场有贡献，而在更高光子能量处贡献的模式更多。我们详细分析了低发射度储存环中电子束的能量分散效应。在不同相对能量分散值（从零到 0.2%）下进行了模拟。我们观察到相干度随相对能量分散值的增加而下降。我们的分析表明，要在高光子能量处达到衍射极限，电子束发射度应降至 1 pmrad 及以下。