艺术家颜料的高分辨率非侵入式 X 射线衍射分析
仪器与探测器
2021-11-19 v2
摘要
能量色散 X 射线衍射（EDXRD）在背反射几何下对样品形貌极不敏感。该非侵入式技术在文化遗产应用中的能力已在 Diamond Light Source 同步辐射光源上以高分辨率进行了探索。本文报道了对 20 世纪艺术家常用的 40 种颜料中色素的 XRD 分析结果。研究发现，合成有机颜料至多产生微弱衍射图样，且无法明确识别其中任何一种颜料。相比之下，大多数含无机颜料的涂料产生了可用于晶体学分析的清晰衍射图样。该技术的高分辨率使得能够提取一系列详细信息：物相识别（包括固溶体）、高精度晶胞参数、物相定量、微晶尺寸与应变参数以及择优取向参数。本文讨论了这些结果对实际画作应用的意义，以及通过使用最先进的微热量计探测器将该技术从同步辐射装置转移到实验室和博物馆的可能性。所呈现的结果展示了该技术基于非侵入式获取极高质量晶体学数据，在艺术史与鉴定研究中令人振奋的潜力。
引用
@article{arxiv.2101.11297,
title = {High-Resolution Non-Invasive X-ray Diffraction Analysis of Artists Paints},
author = {Craig I. Hiley and Graeme M. Hansford and Nicholas Eastaugh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.11297},
year = {2021}
}
备注
Main article: 25 pages, 5 figures; Supplementary information: 35 pages, 37 figures. Accepted for publication in the Journal of Cultural Heritage with revisions