利用气相色谱系统和质谱仪在 ppq 水平测定氙中的氪
仪器与探测器
2014-03-28 v2 天体物理仪器与方法
摘要
我们开发了一种新方法，以前所未有的低浓度测量氙中的氪痕量。这是许多近期低本底粒子物理探测器的必要任务。我们的系统利用低温气相色谱法将氪从氙中分离出来，然后使用质谱仪对氪的量进行定量。我们证明该系统已达到 8 ppq（千万亿分之一）的检测限，并展示了氪浓度低于 1 ppt 的蒸馏氙的测量结果。
引用
@article{arxiv.1308.4806,
title = {Krypton assay in xenon at the ppq level using a gas chromatographic system and mass spectrometer},
author = {Sebastian Lindemann and Hardy Simgen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1308.4806},
year = {2014}
}
备注
7 pages, 4 figures