暗物质应用中氙气内氪的检测
天体物理仪器与方法
2015-03-19 v4 宇宙学与河外天体物理
仪器与探测器
摘要
我们将观察氙气中极低浓度杂质的技术扩展到了氪检测问题上。我们使用常规质谱仪来识别氙气中的氪含量，但通过液氮冷阱将该设备的灵敏度提高了约五个数量级。我们发现可以从质谱测量中推断出氙气的绝对氪浓度，并且我们识别出了低至 0.5x10^{-12} mol/mol (Kr/Xe) 浓度的氪信号。该技术简化了液氙中 WIMP 暗物质搜索的氪本底监测。
引用
@article{arxiv.1103.2714,
title = {Detection of krypton in xenon for dark matter applications},
author = {A. Dobi and C. G. Davis and C. Hall and T. Langford and S. Slutsky and Y. R. Yen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1103.2714},
year = {2015}
}
备注
15 pages, 10 figures