用于测量氙暗物质探测器中氪污染的原子阱痕量分析系统
原子物理
2013-09-30 v2 天体物理仪器与方法
摘要
我们开发了一种原子阱痕量分析 (ATTA) 系统，用于在万亿分之一 (ppt) 水平测量 Xe 中的 Kr，这是超越当前一代的液氙暗物质探测器实现其灵敏度所必需的前提条件。由于 Ar 和 Kr 具有相似的激光冷却波长，该装置已先用 Ar 进行测试，以避免在测量 Xe 样品前发生污染。射频 (RF) 等离子体放电产生亚稳态原子束，该原子束经过光学准直、减速，并利用标准磁光技术进行囚禁。基于测得的系统总效率 （探测模式），我们预期 ATTA 系统能在 小时内达到设计目标的灵敏度，即探测 Xe 中 ppt 浓度的 Kr。
引用
@article{arxiv.1305.6510,
title = {An atom trap trace analysis system for measuring krypton contamination in xenon dark matter detectors},
author = {Elena Aprile and Taehyun Yoon and Andre Loose and Luke W. Goetzke and Tanya Zelevinsky},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.6510},
year = {2013}
}
备注
6 pages, 5 figures