一种用于表征氙气和低温蒸馏系统的新型$^{83\mathrm{m}}$Kr示踪方法
天体物理仪器与方法
2014-12-24 v1 仪器与探测器
摘要
放射性异构体Kr具有许多特性，使其非常有用。其低能衰变产物，如转换电子、抖脱电子、俄歇电子以及X射线和γ射线，用于中微子质量实验和直接暗物质探测实验的校准。由于半衰期短（1.83小时）且衰变到基态Kr，不会污染任何低本底实验的长寿命放射性核素。本文介绍了Kr的两个新应用。它可用作惰性气体中的放射性示踪剂，以表征气体路由系统内的粒子流。描述了一种将Kr掺杂到氙气中并使用基于光电倍增管的定制探测器进行检测的方法。该技术已用于确定氙气纯化系统内气体粒子的循环速度。此外，Kr可用于快速估计蒸馏系统的分离性能。
引用
@article{arxiv.1407.3981,
title = {A novel $^{83\mathrm{m}}$Kr tracer method for characterizing xenon gas and cryogenic distillation systems},
author = {S. Rosendahl and K. Bokeloh and E. Brown and I. Cristescu and A. Fieguth and C. Huhmann and O. Lebeda and C. Levy and M. Murra and S. Schneider and D. Vénos and C. Weinheimer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.3981},
year = {2014}
}