单层MoS$_2$催化剂中活性边缘位点的原位检测
材料科学
2015-11-16 v1
摘要
MoS2纳米颗粒已被证实为加氢脱硫和析氢等过程的催化剂，但揭示其在催化工况下的原子尺度结构一直极具挑战性。环境压力X射线光电子能谱(AP-XPS)使我们能够原位跟踪处于活性状态的、与催化相关的MoS2边缘位点的形成。XPS指纹由对Mo3d核心能级谱的独立贡献描述，其相对强度对热力学条件敏感。密度泛函理论(DFT)被用于模拟Au(111)上的三角形MoS2颗粒，并识别边缘位点的特定硫化状态。一个一致的图像浮现出来：当活性边缘被还原时，边缘Mo原子的核心能级位移反直觉地朝向更高结合能演化。该位移由边缘位点金属性的惊人改变来解释，这是工况下MoS2边缘的一个独特光谱特征。
引用
@article{arxiv.1511.04254,
title = {In Situ Detection of Active Edge Sites in Single-Layer MoS$_2$ Catalysts},
author = {Albert Bruix and Henrik G. Füchtbauer and Anders K. Tuxen and Alex S. Walton and Mie Andersen and Søren Porsgaard and Flemming Besenbacher and Bjørk Hammer and Jeppe V. Lauritsen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1511.04254},
year = {2015}
}