噪声对MEMS技术中若干模型淬灭的影响
偏微分方程分析
2020-12-22 v1
摘要
在当前工作中，我们研究一类随机抛物型问题。其 underlying 问题实际上源于对理想化电驱动MEMS（微机电系统）器件在控制该器件的电势差随机涨落情形下的研究。我们首先给出数学模型，随后推导出若干局部存在性结果。接着针对模型的若干特定版本（就其边界条件而言），我们推导了淬灭结果以及此类奇异性发生的概率估计。随后在一维情形下对该问题进行了额外的数值研究，进一步考察其淬灭行为。
引用
@article{arxiv.2012.10922,
title = {Impacts of noise on quenching of some models arising in MEMS technology},
author = {Ourania Drosinou and Nikos I. Kavallaris and Christos V. Nikolopoulos},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.10922},
year = {2020}
}
备注
29 pages, 8 figures, Submitted to a journal