介观器件中由安德森灾变引起的热产生
介观与纳米尺度物理
2020-11-12 v1 量子物理
摘要
安德森正交性灾变（AOC）定理指出，多体费米子系统的基态与受散射势扰动的同一系统的基态渐近正交，使得原始基态与新基态之间的重叠随系统尺寸衰减至零。我们采用 AOC 来描述互补金属氧化物半导体（CMOS）晶体管中的热产生。我们发现晶体管中释放的热量包含两个不同的部分：外加电压下电子透射伴随的耗散贡献，以及由于在高导和低导态之间切换时电子散射矩阵改变而产生的纯量子力学 AOC 部分。我们计算了 AOC 引起的热产生，称之为开关热。
引用
@article{arxiv.2011.05726,
title = {Heat generation due to the Anderson catastrophe in mesoscopic devices},
author = {A. V. Lebedev and V. M. Vinokur},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.05726},
year = {2020}
}
备注
9 pages, 5 figures