拓扑缺陷的共振产生

我们描述了一种新现象,其中涡旋是由于标量场的共振振荡而产生的,该振荡由周期性变化的温度 T 驱动,且 T 始终远低于临界温度 $T_c$。此外,当局部区域被快速加热到 {\it 低于} $T_c$ 的温度时,可以形成相距很远的涡旋和反涡旋。我们将我们的结果与暴胀后再加热期间缺陷产生的最新模型进行了比较。我们还讨论了我们的拓扑缺陷产生预测的可能实验检验,这些预测 {\it 无需} 经历相变。