弱与强拓扑绝缘体中的有限尺寸能隙
介观与纳米尺度物理
2013-01-08 v2
摘要
拓扑绝缘体 (TI) 的非平凡性要么由体态拓扑不变量刻画，要么由受保护的金属表面态的存在来表征。然而，在有限尺寸的实际样品中，这种非平凡性并不必然保证表面态的无能隙特性。取决于几何形状和拓扑指数，可能出现不同性质的有限尺寸能隙，并相应地表现出不同的能隙标度行为。自旋 - 表面锁定提供了这样一种能隙打开机制，导致能量隙呈幂律标度。弱 TI 和强 TI 对样品几何形状表现出不同程度的敏感性。作为一个值得注意的例子，研究表明，具有矩形棱柱形状的强 TI 纳米线比具有完全相同几何形状的弱 TI 纳米线具有更大的能隙。
引用
@article{arxiv.1208.0654,
title = {Finite-size energy gap in weak and strong topological insulators},
author = {Ken-Ichiro Imura and Mayuko Okamoto and Yukinori Yoshimura and Yositake Takane and Tomi Ohtsuki},
journal= {arXiv preprint arXiv:1208.0654},
year = {2013}
}
备注
16 pages, 18 figures