跳跃电导中散粒噪声的有限尺寸效应
介观与纳米尺度物理
2015-06-15 v3
摘要
我们研究了基于 GaAs 二维电子系统的宏观绝缘体在变程跳跃（VRH）机制下的电流散粒噪声。在低温且充分耗尽的样品中，测量到接近完整泊松值的散粒噪声。这表明观察到了 VRH 电导中散粒噪声的有限尺寸效应，并证明了在绝缘机制下进行精确准粒子电荷测量的可能性。
引用
@article{arxiv.1302.5185,
title = {Finite-size effect in shot noise in hopping conduction},
author = {E. S. Tikhonov and V. S. Khrapai and D. V. Shovkun and D. Schuh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.5185},
year = {2015}
}
备注
accepted to JETP Letters