$\bar B\to X_s\gamma$衰变中的次领头幂次因子化与不可约不确定性
高能物理 - 唯象学
2015-03-13 v2
摘要
利用软-共线有效理论和重夸克有效理论的方法,对端点区域中的光子谱进行了系统的因子化分析。提出在的所有阶上,该谱满足一个新的因子化公式,该公式除了包含从衰变分布中熟悉的结构项外,还包含形式为和的“分辨光子”贡献。这里和是新的软函数和喷注函数,其形式已被推导。每当光子与轻部分子耦合而非直接与有效弱相互作用耦合时,就会出现这些贡献。新的贡献首先出现在阶,并与有效弱哈密顿量中除之外的算符相关。它们导致总衰变率的非零修正,这无法使用局域算符乘积展开来描述。在硬和硬-共线相互作用的树图级别上对这些效应进行了系统分析。由此产生的、用 GeV截断定义的衰变率的不确定性估计约为。通过改进对同位旋不对称性的测量,该不确定性可降至。我们认为无法使用可靠的理论方法进一步减小这一不确定性。
引用
@article{arxiv.1003.5012,
title = {Factorization at Subleading Power and Irreducible Uncertainties in $\bar B\to X_s\gamma$ Decay},
author = {Michael Benzke and Seung J. Lee and Matthias Neubert and Gil Paz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.5012},
year = {2015}
}
备注
63 pages, 11 Figures, Journal Version