XX 自旋链中扩展随机缺陷处的纠缠

我们研究了自旋-1/2 XX 链基态中跨越扩展随机缺陷的半链纠缠熵，其中无序强度随距界面的距离以代数方式衰减，即 $\Delta_l\sim l^{-\kappa}$。在整个 $\kappa\ge 0$ 区域内，发现平均纠缠熵随系统尺寸 $L$ 对数增长，关系为 $S_L\simeq\frac{c_{\rm eff}(\kappa)}{6}\ln L+const$，其中有效中心荷 $c_{\rm eff}(\kappa)$ 依赖于 $\kappa$。在 $\kappa<1/2$ 区域，扩展缺陷是相关微扰，强无序重整化群方法给出 $c_{\rm eff}(\kappa)=(1-2\kappa)\ln2$；而在 $\kappa\ge 1/2$ 区域，扩展缺陷在体内是无关的，数值结果表明存在非零的有效中心荷，且随 $\kappa$ 增加而增大。因此发现 $c_{\rm eff}(\kappa)$ 的变化是非单调的，并在 $\kappa=1/2$ 处不连续。