基于第一性原理计算的六方硫属化铟单层中的电子与声子
介观与纳米尺度物理
2014-09-19 v2 材料科学
摘要
我们利用密度泛函理论计算了二维 InX 晶体(其中 X 为 S、Se 或 Te)的电子能带结构、内聚能、声子色散和光吸收谱。我们识别出六方 InX 单层的两种晶相(alpha 和 beta),并表明它们的特征在于不同的拉曼活性声子模集合。我们发现这些材料是间接带隙半导体,其在价带边缘附近具有帽状的空穴色散。后一特征导致在空穴浓度为 cm、 cm 和 cm(分别对应 X=S、Se 和 Te)时发生 Lifshitz 转变(空穴掺杂 InX 的费米面拓扑变化),对于 alpha-InX;而对于 beta-InX,相应的浓度为 cm、 cm 和 cm。
引用
@article{arxiv.1403.4389,
title = {Electrons and phonons in single layers of hexagonal indium chalcogenides from ab initio calculations},
author = {V. Zolyomi and N. D. Drummond and V. I. Fal'ko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1403.4389},
year = {2014}
}
备注
9 pages. arXiv admin note: text overlap with arXiv:1302.6067