通过量子振荡诊断强拓扑绝缘体
强关联电子
2015-06-18 v2
摘要
我们展示了如何通过对绝缘体表面态的量子振荡测量来诊断强拓扑绝缘体，并将其与弱拓扑绝缘体或拓扑平凡对应物区分开来。该判据由表面态量子振荡谱中基频数量的奇偶性定义：偶数个频率意味着弱拓扑绝缘体或拓扑平凡绝缘体，而奇数个频率则指向强拓扑绝缘体。我们还讨论了在实际应用中该判据相关的各个方面和问题。
引用
@article{arxiv.1401.6228,
title = {Diagnosing a strong topological insulator by quantum oscillations},
author = {Revaz Ramazashvili and Frédéric Bègue and Pierre Pujol},
journal= {arXiv preprint arXiv:1401.6228},
year = {2015}
}
备注
5.5 pages, 2 figures