由单次远场测量确定分段导电介质体
偏微分方程分析
2020-05-12 v1
摘要
我们关注于恢复导电介质体的反问题。导电介质体出现在若干具有实际重要性的应用中，包括涂有高导电材料薄层的电磁物体建模以及地球物理学中的大地电磁法。我们考虑通过相关的电磁远场测量来确定介质体内部以及导电界面上的材料参数。在横磁极化下，我们推导了两个新的唯一可辨识性结果，即由单次主动或被动远场测量来确定与多边形嵌套或多边形胞腔几何相关联的二维分段导电介质体。
引用
@article{arxiv.2005.04420,
title = {Determining a piecewise conductive medium body by a single far-field measurement},
author = {Xinlin Cao and Huaian Diao and Hongyu Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2005.04420},
year = {2020}
}